OE750光譜儀測定多種合金

中國，2019年12月5日：日立分析儀器（Hitachi High-Tech Analytical Science）是一家日立高新技術公司（TSE：8036）旗下的一家全資子公司，主要從事分析和測量儀器的制造和銷售，其已推出一款開創性的OE750型新型直讀光譜儀，用于驗證金屬加工廠中的來料規格分析。

由于供應鏈變得復雜，零故障質量策略和要求更高的規格和標準層出不窮，因此金屬加工業面臨著越來越大的壓力，他們需要在投入生產前檢查來料是否違反牌號信息，檢查雜質和痕量元素的含量。為了滿足這些新的QAQC高要求，新型OE750直讀光譜儀具有很高的分析性能水平。它涵蓋金屬元素的所有光譜，并具備一些檢出限。因此，此款分析儀具備價格高昂的同類儀器所能提供的功能水平，可首次為許多金屬加工企業提供優質分析。

OE750實現高分辨率和寬動態范圍要歸功于采用了先進CMOS探測器技術的革命性新光學理念。其中有四項專利正處于申請狀態。因此，這種新型分析儀能覆蓋非常寬的波長范圍；這意味著該分析儀能測量金屬中ppm級別的所有元素。這對于滿足當今嚴格的金屬規格分析至關重要，該分析儀可滿足相關標準和規格的要求，例如ASTM E415標準中關于碳鋼和低合金鋼的試驗方法和ASTM E1086標準中關于用火花原子發射光譜法分析不銹鋼的標準試驗方法。

OE750的新光學系統設計的一個優點是啟動時間短。由于光學系統體積小，不到一小時的時間便可啟用儀器。可在需要檢查100%來料的情況下，助力實現高批量生產。

除了新的光學設計之外，OE750還有其他支持大批量金屬分析的技術特性。它有一個新的密封火花臺，具有優化層流設計，可降低氬氣消耗，降低污染的可能性，并大大降低維護要求。帶有低壓氬氣吹掃的獨特中壓系統可減少泵的使用。這可將泵的功耗降低90%，并避免油氣污染，從而增加可靠性和儀器的正常運行時間。這使得OE750具有高可靠性和低運行成本。

除創新性硬件技術外，新型OE750還包括可提高性能的軟件。例如，它包括日立牌號數據庫，該數據庫包含來自69個國家的339,000多種材料的1,200多萬條記錄和標準，減少了人工查閱牌號目錄的時間和潛在錯誤。作為選擇方案，它配有SPC/LIMS包，能夠輕松有效監控該儀器所涉過程以及由其控制的過程。這是滿足IATF 16949等標準要求的理想工具。

日立OES產品業務開發經理Wilhelm Sanders表示：“在過去，金屬加工企業在購買儀器時，不得不在高分析性能和可接受價格范圍之間作出選擇。現在有了新型OE750，他們無需想出折中方案了。OE750能憑借一套可使用的解決方案提供全面的金屬分析。”