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標準磁探試片A1型
標準磁探試片A1型,用于檢驗磁粉探傷設備、磁粉和磁懸液的綜合性能(系統靈敏度),了
解被檢工件表面有效磁場強度和方向、有效檢測區以及磁化方法是否正確。規格為
1#-15/100;2#-30/100;3#-60/100;4#-7/50;5#-15/50;6#-30/50;6種規格,后三種
適用于有曲率的探傷面,6片/套。
尺寸:20×20mm,厚度為100μm;50μm
D型試片
D型試片段用于檢驗磁粉探傷設備、磁粉和磁懸液的綜合性能(系統靈敏度),了解被檢工件
表面有效磁場強度和方向、有效檢測區以及磁化方法是否正確。規格1#-7/50;2#-15/50;3#-30/50
三種規格,適用于有曲率的探傷面,6片/套。
尺寸:10×10mm,厚度為50μm
M1型試片
M1型試片適用于檢驗磁粉探傷設備、磁粉和磁懸液的綜合性能(系統靈敏度),了解被檢工件表
面有效磁場強度和方向、有效檢測區以及磁化方法是否正確。 規格:Φ12(7/50)、Φ9(15/50)、
Φ6(30/50)。2片/套。
尺寸:20×20mm,厚度為50μm
C型靈敏度試片
C型靈敏度試片適用于檢驗磁粉探傷設備、磁粉和磁懸液的綜合性能(系統靈敏度),了解被檢工件表
面有效磁場強度和方向、有效檢測區以及磁化方法是否正確。當檢測焊縫坡口等狹小部位,由于尺寸關系,
A1型標準試片使用不方便時,一般可選用C-15/50型標準試片。