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標準磁探試片A1型
標準磁探試片A1型，用于檢驗磁粉探傷設備、磁粉和磁懸液的綜合性能（系統靈敏度），了
解被檢工件表面有效磁場強度和方向、有效檢測區以及磁化方法是否正確。規格為
1#-15/100；2#-30/100；3#-60/100；4#-7/50；5#-15/50；6#-30/50；6種規格，后三種
適用于有曲率的探傷面，6片/套。
尺寸：20×20mm，厚度為100μm；50μm
D型試片
D型試片段用于檢驗磁粉探傷設備、磁粉和磁懸液的綜合性能（系統靈敏度），了解被檢工件
表面有效磁場強度和方向、有效檢測區以及磁化方法是否正確。規格1#-7/50；2#-15/50；3#-30/50
三種規格，適用于有曲率的探傷面，6片/套。
尺寸：10×10mm，厚度為50μm
M1型試片
M1型試片適用于檢驗磁粉探傷設備、磁粉和磁懸液的綜合性能（系統靈敏度），了解被檢工件表
面有效磁場強度和方向、有效檢測區以及磁化方法是否正確。 規格：Φ12（7/50）、Φ9（15/50）、
Φ6（30/50）。2片/套。
尺寸：20×20mm，厚度為50μm
C型靈敏度試片
C型靈敏度試片適用于檢驗磁粉探傷設備、磁粉和磁懸液的綜合性能（系統靈敏度），了解被檢工件表
面有效磁場強度和方向、有效檢測區以及磁化方法是否正確。當檢測焊縫坡口等狹小部位，由于尺寸關系，
A1型標準試片使用不方便時，一般可選用C-15/50型標準試片。
